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光矢量分析仪 OVA5100
LUNA公司的OVA5100是最快速、精确、高效的光矢量分析仪，可用千现代 光学设备和系统的损耗、偏振、色散等光学参数的分析与测试，包括光子集成电路(PIC)。
OVA5100是一款与OVASOOO具有同等功能且更便携的升级换代产品。
该设备是光无源器件的理想测试工具， 例如耦合器、 特种光纤、 光纤光栅、 阵列波导光栅、 自由空间滤波器、 可调谐滤波器件、 放大器等等， 只要经过简单 的光路连接， 通过单次扫描就可以实现光学器件的全参数测试。
产品特点l 单次测量即可获取光器件的所有参数
l 3秒内完成器件特性测试
l 完整的偏振响应
l 单次扫描可同步测量：
l －损耗(IL及RL)
l －色散 (CD)
l －群延时 (GD)
l －偏振相关损耗(PDL)
l －偏振模色散(PMD)和二阶PMD －光时域响应
l －琼斯矩阵
l －光学相位响应
l 实时测量
l 友好的用户界面
l 高分辨率C和L波段(OVA5100)或O波段(OVA5113)测试能力
产品应用
l 平面光波导和硅光器件分析
l 光纤器件测量
l 同时测量时域及频域响应
l 获得完整的光学传递函数， 可用于改进器件模拟和模型
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LUNA公司的OVA5100是最快速、精确、高效的光矢量分析仪，可用千现代 光学设备和系统的损耗、偏振、色散等光学参数的分析与测试，包括光子集成电路(PIC)。
OVA5100是一款与OVASOOO具有同等功能且更便携的升级换代产品。
该设备是光无源器件的理想测试工具， 例如耦合器、 特种光纤、 光纤光栅、 阵列波导光栅、 自由空间滤波器、 可调谐滤波器件、 放大器等等， 只要经过简单 的光路连接， 通过单次扫描就可以实现光学器件的全参数测试。
产品特点
l 单次测量即可获取光器件的所有参数
l 3秒内完成器件特性测试
l 完整的偏振响应
l 单次扫描可同步测量：
l －损耗(IL及RL)
l －色散 (CD)
l －群延时 (GD)
l －偏振相关损耗(PDL)
l －偏振模色散(PMD)和二阶PMD －光时域响应
l －琼斯矩阵
l －光学相位响应
l 实时测量
l 友好的用户界面
l 高分辨率C和L波段(OVA5100)或O波段(OVA5113)测试能力
产品应用
l 平面光波导和硅光器件分析
l 光纤器件测量
l 同时测量时域及频域响应
l 获得完整的光学传递函数， 可用于改进器件模拟和模型
参数 | 标准模式* | 高动态范围模式* | 单位 |
波长范围 | |||
1525-1610或1270-1340 | nm | ||
波长 | |||
标准分辨率 | 1.6 | 1.6 | pm |
准确度1 | ±1.5 | ±1.5 | pm |
重复性 | ±0.1 | ±0.1 | Pm |
光相位误差 | |||
±0.05 | ±0.0075 | radians | |
损耗特性 | |||
动态范围2 | 60 | 80 | dB |
波纹 | ±0.05 | ±0.01 | dB |
分辨率 | ±0.05 | ±0.002 | dB |
插损准确度 | ±0.1 | ±0.05 | dB |
回损准确度 | ±0.2 | ±0.1 | dB |
色散 | |||
准确度 | ±10 | ±5 | ps/nm |
群延时 | |||
范围3 | 6 | 6 | Ns |
准确度 | ±0.2 | ±0.1 | ps |
损耗范围2 | 45 | 60 | dB |
PMD 偏振模间色散 | |||
范围 | 6 | 6 | ns |
准确度—一阶 | ±0.03（100pm步长） ±0.15（30pm步长） | ±0.08 | ps |
准确度—二阶 | ±10 | ±2 | ps2 |
损耗范围2 | 40 | 50 | dB |
PDL 偏振相关损耗 | |||
消光比(动态范围) | 40 | 50 | dB |
准确度 | ±0.05 | ±0.03 | dB |
测量时间 | |||
激光扫描频率 | 70 | 70 | nm/s |
全参数测试速度4 | 30 | 30 | ms/nm |
全特定测量时间5 | 12 | 55 | s |
实时模块更新频率(2.5nm扫描) | 1 | - | Hz |
最大测量长度（含接头） | |||
透射测量 | 150 | 150 | m |
反射测量 | 75 | 75 | m |
物理特性 | |||
1级激光器 | <10 | mW | |
| 运行功率 | 100 | W | |
| 重量 (不包含电脑) | 25(11.4) | lb(KG) | |
设备尺寸（宽×长×高） | 14.4 X 13.6 X 6.5 (366 x 345 x 165) | in (mm) | |
