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便携式背光反射计 OBR 6200系列

光通讯测试设备

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OBR 6200系列是LUNA公司的新型便携式背光反射计，具有超高空间分辨率、瑞利散射级的灵敏度，用于对部署在航空航天、海军、数据中心和工业应用中的光纤网络进行检测和故障排查。 OBR 6200系列采用光频域反射技术测量分布式回损（RL）和插损（IL），空间分辨率可达亚毫米级，同时具有高精度和高动态范围。OBR 6200集成了充电电池和触屏显示器，是工程现场维护的理想工具。 OBR 6225是航空航天、海军、运输和工业应用中短程光纤网络测试的理想选择。 产品特点 <p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">• 完全便携且坚固耐用<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">• 建立和分析回损、插损与长度的对应关系<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">• 空间分辨率最高可达 80 μm<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">• 探测和精准定位反射事件<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">• 精准测量光路长度<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">• 自动探测事件点<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">• 单双通道可选<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">• 部分型号拥有IP65和MIL-STD 认证 产品应用 • 光纤器件的现场故障检测 • 精确定位回损和插损事件 • 航空电子、航空航天、海军和工业网络现场维护 • 用于数据中心互连的光纤长度精确测量 • 光传感系统故障排查
背光反射计 OBR4600

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LUNA公司的OBR4600是光纤背光反射计系列产品之一。用于光器件/模块和短距离光网络的测试和故障排除。OBR4600超高空间分辨率基于瑞利背向散射，空间分辨率10微米，零死区，能够集成温度和应变测试，最长测试范围可以达到2km。提供卓越的测试结果和故障排除功能，在短时间内快速获取所需参数。 在国外主要用于飞机、舰船等专用光网络链路故障和缺陷的检测及定位；同时具有传感功能，对关键结构的健康状况监测，以及光路中的应变和温度监测。 产品特点• “零死区”反射计• 以10微米的分辨率测量30m长的光纤• 80 dB动态范围• 背向散射级灵敏度（-130 dB）• 高速扫描（最高以3Hz的频率连续测量1m的光路）• 扩展范围提供2 km测量范围内零死区• 测量分布式IL、RL、距离、偏振态、相位导数和群时延• 高空间分辨率C和L波段（OBR 4600）或O波段（OBR 4613）测试能力 产品应用• 快速定位、识别和诊断光纤的弯曲、熔接、连接和断裂等故障问题• 定位光网络或组件中每个连接处的插损（IL）位置• 测试和排查短距离光网络故障（<2 km）• 为小型化器件提供前所未有的可见性
光矢量分析仪 OVA5100

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LUNA公司的OVA5100是最快速、精确、高效的光矢量分析仪，可用千现代光学设备和系统的损耗、偏振、色散等光学参数的分析与测试，包括光子集成电路(PIC)。OVA5100是一款与OVASOOO具有同等功能且更便携的升级换代产品。 该设备是光无源器件的理想测试工具，例如耦合器、特种光纤、光纤光栅、阵列波导光栅、自由空间滤波器、可调谐滤波器件、放大器等等，只要经过简单的光路连接，通过单次扫描就可以实现光学器件的全参数测试。 <span style="font-variant-numeric: normal; font-variant-east-asian: normal; font-variant-alternates: normal; font-kerning: auto; font-optical-sizing: auto; font-feature-settings: normal; font-variation-settings: normal; font-variant-position: normal; font-stretch: normal; font-size: 9px; line-height: normal; font-family: "Times New Roman";">        产品特点l   单次测量即可获取光器件的所有参数l   3秒内完成器件特性测试l   完整的偏振响应 l   单次扫描可同步测量：l   －损耗(IL及RL)l   －色散 (CD)l   －群延时 (GD)l   －偏振相关损耗(PDL)l   －偏振模色散(PMD)和二阶PMD －光时域响应l   －琼斯矩阵l   －光学相位响应l   实时测量l   友好的用户界面l   高分辨率C和L波段(OVA5100)或O波段(OVA5113)测试能力  产品应用l   平面光波导和硅光器件分析l   光纤器件测量l   同时测量时域及频域响应l   获得完整的光学传递函数，可用于改进器件模拟和模型
光器件分析仪 LCA 510

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Luna LCA 510是一种快速准确的光器件分析仪，是成产测试和质量控制的理想选择。LCA510能够满足生产线大量器件连接并快速测试的需求，同时能够保证高分辨率和高灵敏度，这在测试和验证现代光子器件、网络子系统时至关重要。 LCA 510只需单次扫描就能测试各种无源器件，耦合器、特殊光纤或者其他器件（光纤光栅，阵列波导光栅，自由空间滤波器，波长可调谐器件，放大器等）。 关键特性• 单次扫描即可获取关键器件的所有参数- 插损 (IL)- 回损 (RL)- 偏振相关损耗 (PDL)• 高分辨率 (1.6 pm)和高灵敏度(80 dB 动态范围)• 透射和反射两种测量模式• 无需外部可调谐激光器• 配有C + L波段(LCA 510) 或 O波段(LCA 513)• 3秒内完成全波段范围扫描测试• 用户友好界面 应用• 无源器件测试- DWDMs， AWGs，滤波器，光开关，波导光栅，光模块，耦合器等• 高分辨率测量平面集成光路(PLCs) 和硅光器件• 生产测试和质量控制• 柔性可调谐光源分束器
光器件分析仪 LWA 7000 系列

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LWA 7601-C 光器件分析仪主要用于分析无源光器件和模块，其测试速度快且易于操作。可以测试插损(IL)和回损(RL)分布，以及器件长度，在测试光学器件时具有反射和透射两种测量模式。 LWA 7601-C 采用光频域反射技术测量光纤背向瑞利散射或透射光作为距离/时间（或波长）的函数。LWA 7601-C 作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。可以升级测量长度，最高可达500m，使光纤网络的测试变得简单。 LWA 7601-C 降低了测试的成本和复杂性，同时通过使用单台仪器测量IL、RL 和反射或传输长度来提高生产效率。 产品特性 • 回损 (RL) 和插损 (IL) 分析测量• 长度方向上的回损分布测量• 回损(RL)和插损(IL)的光谱分析• 探测和精准定位反射事件和光路• 速度、空间分辨率、精度优化产品测试• 20μm空间分辨率• 12.5 Hz 扫描/采集速率(在20m模式下) 产品应用 • 回损RL测量• 插损IL自动测试和分析• 亚皮秒精度延时(长度)测量• PLCs, 波导器件, AWGs,ROADMs, 等器件测量• 滤波器, 耦合器, 光开关, 分束器, FBGs, 波分器件测试

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