LWA 7601-C 光器件分析仪主要用于分析无源光器件和模块，其测试速度快且易于操作。 可以测试插损(IL)和回损(RL)分布，以及器件长度，在测试光学器件时具有反射和透射两种测量模式。

LWA 7601-C 采用光频域反射技术测量光纤背向瑞利散射或透射光作为距离/时间（或波长）的函数 。LWA 7601-C 作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。可以升级测量长度，最高可达500m，使光纤网络的测试变得简单。 LWA 7601-C 降低了测试的成本和复杂性，同时通过使用单台仪器测量IL、RL 和反射或传输长度来提高生产效率。

产品特性

• 回损 (RL) 和插损 (IL) 分析测量

• 长度方向上的回损分布测量

• 回损(RL)和插损(IL)的光谱分析

• 探测和精准定位反射事件和光路

• 速度、空间分辨率、精度优化产品测试

• 20μm空间分辨率

• 12.5 Hz 扫描/采集速率(在20m模式下)

产品应用

• 回损RL测量

• 插损IL自动测试和分析

• 亚皮秒精度延时(长度)测量

• PLCs, 波导器件, AWGs,ROADMs, 等器件测量

• 滤波器, 耦合器, 光开关, 分束器, FBGs, 波分器件测试