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  • 光器件分析仪 LWA 7000 系列

  • 光器件分析仪 LWA 7000 系列

    LWA 7601-C 光器件分析仪主要用于分析无源光器件和模块，其测试速度快且易于操作。 可以测试插损(IL)和回损(RL)分布，以及器件长度，在测试光学器件时具有反射和透射两种测量模式。

     

    LWA 7601-C 采用光频域反射技术测量光纤背向瑞利散射或透射光作为距离/时间（或波长）的函数 。LWA 7601-C 作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。可以升级测量长度，最高可达500m，使光纤网络的测试变得简单。 LWA 7601-C 降低了测试的成本和复杂性，同时通过使用单台仪器测量IL、RL 和反射或传输长度来提高生产效率。

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商品描述

LWA 7601-C 光器件分析仪主要用于分析无源光器件和模块，其测试速度快且易于操作。 可以测试插损(IL)和回损(RL)分布，以及器件长度，在测试光学器件时具有反射和透射两种测量模式。

 

LWA 7601-C 采用光频域反射技术测量光纤背向瑞利散射或透射光作为距离/时间（或波长）的函数 。LWA 7601-C 作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。可以升级测量长度，最高可达500m，使光纤网络的测试变得简单。 LWA 7601-C 降低了测试的成本和复杂性，同时通过使用单台仪器测量IL、RL 和反射或传输长度来提高生产效率。


产品特性

产品应用

• 回损 (RL) 和插损 (IL) 分析测量

• 长度方向上的回损分布测量

• 回损(RL)和插损(IL)的光谱分析

• 探测和精准定位反射事件和光路

• 速度、空间分辨率、精度优化产品测试

• 20μm空间分辨率

• 12.5 Hz 扫描/采集速率（在20m模式下）

• 回损RL测量

• 插损IL自动测试和分析

• 亚皮秒精度延时（长度）测量

• PLCs, 波导器件, AWGs,ROADMs, 等器件测量

• 滤波器, 耦合器, 光开关, 分束器, FBGs, 波分器件测试


规格参数

参数LWA7601-CLWA7601-C²
最大测量长度反射模式100 m500 m
透射模式200 m1000 m
空间分辨率(两点)20 μm80 μm
波长精度±2 pm
时延精度±0.001 %±0.005 %
中心波长1546.69 nm
扫频（波长）范围±2500(±20nm) GHz±625(~±5nm) GHz
测量速率（连续测量）~0.08s (20m)
~0.4s (100m)		~0.5s
最大功率5 mW
 回损测量特性(反射模式)
RL动态范围70 dB
总范围0to-130 dB
灵敏度-135 dB
分辨率±0.1 dB
精度±0.5 dB
 插损测量特性(反射透射)
IL动态范围，透射模式70 dB
IL动态范围，反射模式15 dB
分辨率±0.1 dB
精度±0.2 dB
 物理特性
远程接口SCPI APl over TCP/IP
光学接口FC/APC
尺寸35(L) x 47(W) x 10(H) cm
重量（不含设备控制器）15lbs (7kg)