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  • 偏振相关损耗测试仪 PDL-201

  • 偏振相关损耗测试仪 PDL-201

    产品总述

    采用专利最大最小搜索技术，Luna公司的PDL测量仪能在30 ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。它能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。


    产品特性

    30 ms的测量速度

    较宽的波长范围

    PDL测量精度高

    PDL模拟输出

    高亮的OLED屏
    功率计功能


    产品应用

    PDL与波长测量

    DWDM器件特性测试

    光纤传感元件特性测试


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商品描述

产品总述

采用专利最大最小搜索技术，Luna公司的PDL测量仪能在30 ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。它能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。


产品特性

30 ms的测量速度

较宽的波长范围

PDL测量精度高

PDL模拟输出

高亮的OLED屏
功率计功能


产品应用

PDL与波长测量

DWDM器件特性测试

光纤传感元件特性测试


规格参数
波长范围1260~1620nm
分辨率0.01dB
PDL精度±(0.01 + 5% (PDL))(dB)
PDL重复性±(0.005 + 2% (PDL))(dB)
PDL动态范围0~45dB
IL精度±(0.01 + 5% (IL))(dB)
IL重复性±(0.005 dB + 2% (IL))(dB)
IL动态范围0~45dB
安全功率范围(DUT输出口)-40dBm~+6dBm
功率精度±0.25dB
功率测量波长校准1260~1360nm和1440~1620nm
测量速度30ms/测试(输入功率>-30dBm)
操作温度0 ~ 50 °C
储存温度-20 ~ 70 °C
前面板显示OLED图形显示
光连接器类型

光源和DUT输入：APC

DUT输出：自由空间适配器

模拟输出0~4V(PDL监控电压)
电源100 – 240 V, 50 – 60 Hz
通讯端口USB, 以太网, RS-232, GPIB
尺寸356X216X89mm