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【CIOE2021】捷通参加深圳光博会
来源: | 作者:市场部 | 发布时间: 2021-08-21 | 5551 次浏览 | 分享到:
捷通公司即将参加深圳国际会展中心(宝安新馆)举办的第23届中国国际光电博览会(2021年),欢迎您莅临捷通展位14B62。


作为极具规模及影响力的光电产业综合性展会,第23届光电博览会将于2021年9月16-18日在深圳国际会展中心举办,同期六展覆盖信息通信、激光、红外、紫外、精密光学、镜头及模组、传感等版块,面向光电及应用领域展示前沿的光电创新技术及综合解决方案,掌握行业最新动向、洞察市场发展趋势。捷通技术服务有限公司作为美国LUNA在亚太地区指定代理商及技术服务中心,将携先进的光纤测量与监测系统亮相光博会。



捷通参展主题及产品


先进的光纤技术能够广泛应用到通信、航空航天、汽车、土木和岩土工程、能源、工业与制造等领域。传感和无损检测、通信测试与光子控制能够为这些应用提供保障。欢迎莅临捷通展台,了解领先的光纤测量与监测解决方案及其广泛的应用领域:

  • 通信:更快、更全面测试光纤网络和光学器件;

  • 航空航天:通信和航空电子、先进材料和结构以及特种涂层的先进测试和测量解决方案;

  • 汽车:测试、测量、验证新材料和新系统;

  • 土木和岩土工程:坚固耐用、可扩展的实时结构健康监测;

  • 能源:监测和测量最具挑战性的应用;

  • 工业与制造:通过精确可靠的监测提升质量。



捷通在本届光博会上将展示六大应用领域解决方案及明星产品样机,现场还有专家团队解答您感兴趣的相关应用与技术问题,以及关于传感和无损检测、通信测试与光子控制方面的疑问。


展示相关解决方案:

  • 400/800G偏振性能测试:DGD和SOPMD模拟器、PDL模拟器、△SOP/dt变化率模拟器;

  • 生产制造测试:偏振控制、IL/RL/PDL/PMD/CD/群时延的波长相关测量、分布损耗 vs. 时间/距离、更快、更完整的测试覆盖率;

  • 数据中心解决方案:分布式损耗/反射测量、超高分辨率零死区OTDR测量、延迟测量;

  • 硅光与集成电路(PIC)测量:所有线性光学参数的完整表征、具有高分辨率时域分析的内部探测组件、一次扫描可测得无源器件的线性传递函数(琼斯矩阵)。


展示相关产品:

  • OVA 5100光矢量分析仪——单次扫描即可完成光器件的全参数测试;

  • LUNA 6415光器件分析仪——高速、高空间分辨率OFDR测量;

  • NRT-2500偏振控制平台——灵活、多用途、全功能偏振控制平台;

  • ERM-202消光比测量仪——单通道/双通道、全波段消光比测量仪;

  • OBR 4610背光反射计——可用于1060nm系统的OBR和高分辨率分布损耗分析。


捷通展台期待您的莅临!