Luna 6400光器件分析仪主要用于测试无源光器件、模块和系统，其测试速度快且易于操作。可以测试插损（IL）和回损（RL）分布，以及器件长度，具有反射和透射两种测量模式。

Luna 6400系列光器件分析仪采用光频域反射技术（OFDR），通过探测和分析背向瑞利散射光或者透射光获取其与距离的函数关系。Luna 6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想分析仪，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率（20μm）。Luna 6435用于测试网络、放大器和其他光纤系统的测量范围已扩展到500米。

Luna 6400单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等测试，大大降低了测试成本，同时简化了测试流程,相比其它测试系统，将大大增加测试产量。

反射测量模式下，Luna 6400获取回损分布（vs 长度）。下面的曲线显示了被选中的反射事件（滤波器）的光谱特性。